View In English View In English
pembekal plastik, lembaran plastik, plastik rod, tiub plastik, plexiglass, kedai Hubungi Kami Hubungi Kami Lokasi Lokasi Mengenai Kami Mengenai Kami Track Track Track Track Daftar Daftar Log masuk Masuk
 
Carian
Pautan Bahan Teratas
Bahan Terlaris
Penyelesaian Bahan
SEMUA helaian
SEMUA rod
SEMUA tiub
SEMUA Filem
SEMUA Profil
SEMUA Industri

Produk Kad Probe

Industries berkaitan
Lebih Industries
Produk Kad Probe
  

Overview of Probe Card Products

— Kad Probe & Peralatan Ujian Probe
Apakah Kad Probe? Kad kuar wafer ialah perkakasan penting yang digunakan dalam ujian wafer oleh syarikat pembuatan semikonduktor. Ujian wafer ialah proses menguji cip individu secara elektrik pada wafer untuk menentukan sama ada cip itu berfungsi baik atau buruk. Ia adalah salah satu proses terpenting dalam pembuatan semikonduktor. Peralatan Ujian Automatik (ATE) yang melakukan ujian terdiri daripada penguji IC, kepala ujian dan manipulator kepala ujian. Kad probe biasanya dipasang pada kepala ujian dan disambungkan secara elektrik kepada penguji IC melalui kabel (lihat rajah). Kad siasatan menyediakan cara untuk menghantar isyarat elektrik daripada penguji ke cip IC, sama seperti cara kotak TV kabel akan menghantar isyarat daripada syarikat kabel ke televisyen anda di rumah.

  • Brosur Julat Produk Plastik Profesional
  • Minta Sebut Harga Sekarang

    • Probe Card Products ... our Products

    Sort By:
    Apakah Kad Probe?
    Kad kuar wafer biasanya terdiri daripada papan litar bercetak dengan set jarum kuar yang dipasang dengan ketepatan. Jarum probe ialah pin kecil dengan hujung tajam yang menghubungi pad ikatan, atau terminal isyarat, pada cip IC semasa ujian. Jarum probe biasanya diperbuat daripada logam berprestasi tinggi seperti tungsten dengan kekonduksian elektrik yang sangat baik dan sifat mekanikal yang kuat. Jarak antara jarum probe bersebelahan boleh seketat 20-30 mikron, kurang daripada separuh lebar rambut manusia iaitu sekitar 80 mikron. Terdapat sebanyak beberapa ribu jarum kuar dalam ruang beberapa sentimeter persegi pada kad kuar. Oleh itu, pembuatan kad siasatan memerlukan kepakaran teknikal, R&D dan harta intelek (IP) yang luar biasa. Dan penglihatan yang baik!

    Kad siasatan, dianggap 'bahan habis pakai' kerana ia perlu diganti atau diperbaharui selepas tempoh yang terhad. Jangka hayat probe yang boleh digunakan ditentukan oleh bilangan 'touch down' iaitu bilangan kali jarum kad probe bersentuhan dengan cip pada wafer. Biasanya, kad siasatan bertahan antara beberapa ratus ribu hingga sejuta sentuhan turun.
    Lokasi profesional Plastik
    Lokasi Sepanjang
    Disyorkan untuk anda