Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semikonduktor ATE (Peralatan Ujian Automatik), untuk menguji peranti semikonduktor, boleh menguji pelbagai alat dan sistem elektronik, dari komponen mudah (resistor, kapasitor, dan induktor) ke litar bersepadu (IC), papan litar bercetak (PCB) kompleks, sistem elektronik yang dipasang sepenuhnya. Sistem ATE direka untuk mengurangkan jumlah masa ujian yang diperlukan untuk mengesahkan bahawa peranti tertentu berfungsi atau dengan cepat mencari kesalahannya sebelum bahagian itu mempunyai peluang untuk digunakan dalam produk pengguna akhir. Untuk mengurangkan kos pembuatan dan meningkatkan hasil, peranti semikonduktor perlu diuji selepas direka untuk mengelakkan peranti rosak berakhir dengan pengguna. Seni ATE Semikonduktor terdiri daripada pengawal induk (biasanya komputer) yang menyegerakkan satu atau lebih sumber dan menangkap instrumen. Dari segi sejarah, pengawal atau relay yang direka khas digunakan oleh sistem ATE. Peranti Di bawah Ujian (DUT) disambungkan secara fizikal ke ATE oleh mesin robotik yang lain yang dikenali sebagai Handler atau Prober dan melalui Penyesuai Ujian Antara Muka yang disesuaikan (ITA) atau perlawanan yang menyesuaikan sumber ATE ke DUT.
Untuk maklumat teknikal tambahan, lihat: Bahan Penguji IC Quadrant Quadrant Quadrant