Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), yang dinamakan bagi ujian peranti semikonduktor, boleh menguji pelbagai peranti dan sistem elektronik, daripada komponen mudah (perintang, kapasitor, dan pengaruh) untuk litar bersepadu (IC), papan litar bercetak (PCB), dan kompleks, benar-benar dipasang sistem elektronik. sistem ATE direka untuk mengurangkan jumlah masa ujian diperlukan untuk mengesahkan bahawa peranti tertentu kerja atau untuk mencari dengan cepat kelemahannya sebelum bahagian yang mempunyai peluang untuk digunakan dalam produk pengguna akhir. Untuk mengurangkan kos pengeluaran dan meningkatkan hasil, peranti semikonduktor perlu diuji selepas direka untuk mengelakkan peranti rosak berakhir dengan pengguna. The Semiconductor ATE seni bina terdiri daripada pengawal induk (biasanya komputer) yang menyelaras satu atau lebih sumber dan menangkap instrumen (disenaraikan di bawah). Dari segi sejarah, pengawal yang direka khas atau geganti digunakan oleh sistem MAKAN. Device Under Test (DUT) secara fizikal dihubungkan dengan ATE oleh satu lagi mesin robot dipanggil Handler atau alat penyelidik dan melalui Ujian Adapter disesuaikan Interface (ITA) atau "perlawanan" yang menyesuaikan diri sumber ATE untuk Dut.