Probe Card - Probe Test (3825-PC)

  

Overview of Probe Card - Probe Test (3825-PC)

— Kad siasat adalah antara muka antara sistem ujian elektronik dan wafer semikonduktor. Kebiasaannya kad siasat secara mekanikal dilekatkan ke prober dan disambungkan secara elektrik ke penguji. Tujuannya adalah untuk menyediakan laluan elektrik antara sistem ujian dan litar pada wafer, dengan itu membenarkan pengujian dan pengesahan litar pada tahap wafer, biasanya sebelum diced dan dibungkus. Ia terdiri daripada biasanya papan litar bercetak (PCB) dan beberapa bentuk unsur hubungan, biasanya logam, tetapi mungkin bahan lain juga. Pengilang semikonduktor biasanya akan memerlukan kad siasatan baru bagi setiap wafer peranti baru dan bagi pengecutan peranti (apabila pembuatan mengurangkan saiz peranti tetapi tetap berfungsi sama) kerana kad siasat adalah penyambung tersuai yang berkesan yang mengambil corak sejagat daripada penguji tertentu dan menterjemahkan isyarat untuk menyambung ke pad elektrik di wafer. Untuk menguji peranti memori DRAM dan FLASH, pad ini biasanya diperbuat daripada aluminium dan 40-90 um setiap sisi. Peranti lain mungkin mempunyai pad rata, atau menimbulkan benjolan atau tiang yang terbuat dari tembaga, aloi tembaga atau banyak jenis solder seperti timah, timah perak dan lain-lain. Kad penyiasat mesti membuat sentuhan elektrik yang baik ke pad atau benjolan ini semasa ujian peranti. Apabila ujian peranti selesai, prober akan mengindeks wafer ke peranti seterusnya untuk diuji. Kad probe secara umumnya dikelaskan kepada jenis jarum, jenis menegak, dan jenis MEMS bergantung kepada bentuk dan bentuk unsur hubungan. Jenis MEMS adalah teknologi paling canggih yang kini tersedia. Jenis kad siasat yang paling maju kini boleh menguji keseluruhan 12 wafer dengan satu sentuhan. Plastik Profesional menawarkan pelbagai jenis bahan yang digunakan dalam peralatan uji kaji termasuk; Polyimide Micro Tubing digunakan untuk melindungi wayar tungsten, serta, Macor®, Vespel® (polyimide) & Meldin® (polyimide) yang digunakan untuk ketua ujian.