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半導體設備測試設備(ATE)(3825-TE)

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半導體設備測試設備(ATE)(3825-TE)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— 用於測試半導體器件的半導體ATE(自動測試設備)可以測試各種電子器件和系統,從簡單的元件(電阻器,電容器和電感器)到集成電路(IC),印刷電路板(PCB)和複雜的,完全組裝的電子系統。 ATE系統旨在減少驗證特定設備工作所需的測試時間,或在部件有機會用於最終消費產品之前快速找到故障。為了降低製造成本並提高產量,半導體器件應在製造後進行測試,以防止有缺陷的器件最終落入消費者手中。半導體ATE架構由主控制器(通常是計算機)組成,它可以同步一個或多個源和捕獲儀器。歷史上,ATE系統使用定制設計的控制器或繼電器。被測設備(DUT)通過另一台稱為Handler或Prober的機器人機器以及通過定制的接口測試適配器(ITA)或固定裝置將ATE的資源調整到DUT,從物理上連接到ATE。
有關其他技術信息,請參閱: Quadrant EPP後端IC測試材料

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