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半導體設備測試設備(ATE)(3825-TE)

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Semicon 測試設備 (ate) (3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— 半導體 ATE(自動測試設備),用於測試半導體器件,可以測試範圍廣泛的電子設備和系統,從簡單的組件(電阻器、電容器和電感器)到集成電路 (IC)、印刷電路板 (PCB) 和複雜的,完全組裝的電子系統。 ATE 系統旨在減少驗證特定設備工作所需的測試時間,或在部件有機會用於最終消費產品之前快速發現其故障所需的測試時間。為了降低製造成本並提高良率,半導體器件應在製造後進行測試,以防止有缺陷的器件最終流入消費者手中。半導體 ATE 架構由同步一個或多個源和捕獲儀器的主控制器(通常是計算機)組成。過去,ATE 系統使用定制設計的控制器或繼電器。被測設備 (DUT) 由另一台稱為 Handler 或 Prober 的機器人機器物理連接到 ATE,並通過定制的接口測試適配器 (ITA) 或夾具將 ATE 的資源適配到 DUT。

有關其他技術信息,請參閱: Quadrant EPP 後端 IC 測試材料

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