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衣櫥安裝與設計(1799-CL)
壁櫥安裝和設計
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探針卡 - 探針測試(3825-PC)

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探針卡 - 探針測試(3825-PC)
探針卡是電子測試系統和半導體晶片之間的接口。通常,探針卡機械對接到探針並電連接到測試儀。其目的是在測試系統和晶片上的電路之間提供電路徑,從而允許在晶片級電路的測試和驗證,通常在它們被切割和封裝之前。它通常由印刷電路板(PCB)和某種形式的接觸元件組成,通常是金屬的,但也可能是其它材料。半導體製造商通常需要為每個新器件晶圓提供新的探針卡以及器件縮小(當製造商減小器件尺寸但保持功能相同時),因為探針卡實際上是一種採用通用模式的定制連接器給定測試器的信號並轉換信號以連接到晶片上的電焊盤。為了測試DRAM和FLASH存儲器件,這些焊盤通常由鋁製成,每邊40-90μm。其他裝置可具有平墊,或由銅,銅合金或許多類型的焊料(例如鉛錫,錫 - 銀等)製成的凸起的凸起或柱。在測試設備期間,探針卡必須與這些焊盤或凸塊形成良好的電接觸。當設備的測試完成後,探測器將晶圓索引到下一個待測設備。根據接觸元件的形狀和形式,探針卡大致分為針型,垂直型和MEMS型。 MEMS類型是目前最先進的技術。目前最先進的探針卡可以通過一次觸地測試來測試整個12個晶圓。 Professional Plastics提供用於探針測試設備的全系列材料,包括:聚酰亞胺微管用於絕緣鎢絲,以及用於測試頭的Macor®,Vespel®(聚酰亞胺)和Meldin®(聚酰亞胺)。
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