Semicon อุปกรณ์ทดสอบ (ATE) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— อุปกรณ์กึ่งตัวนำ ATE (Automated Test Equipment) สำหรับทดสอบอุปกรณ์กึ่งตัวนำสามารถทดสอบอุปกรณ์และระบบอิเล็กทรอนิกส์ได้หลากหลายตั้งแต่คอมโพเนนต์ง่ายๆ (ตัวต้านทานตัวเก็บประจุและตัวเหนี่ยวนำ) ไปจนถึงแผงวงจรรวม (ICs) แผงวงจรไฟฟ้า (PCBs) และ ซับซ้อนประกอบระบบอิเล็กทรอนิกส์ ระบบ ATE ได้รับการออกแบบมาเพื่อลดระยะเวลาในการทดสอบที่จำเป็นในการตรวจสอบว่าอุปกรณ์ใดทำงานได้หรือค้นหาข้อบกพร่องได้อย่างรวดเร็วก่อนที่ชิ้นส่วนจะมีโอกาสนำไปใช้ในผลิตภัณฑ์อุปโภคบริโภคขั้นสุดท้าย เพื่อลดต้นทุนการผลิตและปรับปรุงผลผลิตอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ควรได้รับการทดสอบหลังจากถูกประดิษฐ์ขึ้นเพื่อป้องกันไม่ให้อุปกรณ์ที่มีข้อบกพร่องเกิดขึ้นกับผู้บริโภค สถาปัตยกรรม Semiconductor ATE ประกอบด้วยตัวควบคุมหลัก (โดยทั่วไปคือคอมพิวเตอร์) ที่ซิงค์แหล่งข้อมูลและเครื่องมือจับภาพอย่างน้อยหนึ่งรายการ ในอดีตตัวควบคุมหรือรีเลย์ที่ออกแบบเองได้ถูกใช้โดยระบบ ATE อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) เชื่อมต่อทางกายภาพกับ ATE โดยใช้หุ่นยนต์ตัวอื่นที่เรียกว่า Handler หรือ Prober และผ่านทาง Interface Test Adapter (ITA) หรืออุปกรณ์ที่ปรับแต่งทรัพยากรของ ATE ไปยัง DUT
สำหรับข้อมูลทางเทคนิคเพิ่มเติมโปรดดูที่: วัสดุทดสอบ IC back-end Quadrant