เซมิคอนดักเตอร์ ATE (Automated Test Equipment) สำหรับชื่อการทดสอบอุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์สามารถทดสอบความหลากหลายของอุปกรณ์อิเล็กทรอนิกส์และระบบจากองค์ประกอบที่เรียบง่าย (ต้านทาน, ตัวเก็บประจุและตัวเหนี่ยวนำ) กับวงจรแบบบูรณาการ (ICS) แผงวงจรพิมพ์ (PCB) และมีความซับซ้อนประกอบสมบูรณ์ระบบอิเล็กทรอนิกส์ ATE ระบบถูกออกแบบมาเพื่อลดเวลาการทดสอบที่จำเป็นในการตรวจสอบว่าอุปกรณ์เฉพาะหรือทำงานได้อย่างรวดเร็วพบความผิดพลาดของก่อนที่จะมีส่วนร่วมมีโอกาสที่จะนำมาใช้ในสินค้าอุปโภคบริโภคขั้นสุดท้าย เพื่อลดต้นทุนการผลิตและเพิ่มผลผลิต, อุปกรณ์เซมิคอนดักเตอร์ควรจะทดสอบหลังจากที่ถูกประดิษฐ์เพื่อป้องกันไม่ให้อุปกรณ์ที่ชำรุดสิ้นสุดขึ้นกับผู้บริโภค เซมิคอนดักเตอร์ ATE สถาปัตยกรรมประกอบด้วยตัวควบคุมหลัก (โดยปกติคอมพิวเตอร์) ที่ประสานหนึ่งหรือแหล่งที่มาและจับเครื่องมืออื่น ๆ (ด้านล่าง) อดีตควบคุมกำหนดเองที่ออกแบบหรือรีเลย์ถูกนำมาใช้โดยระบบ ATE อุปกรณ์ภายใต้การทดสอบ (DUT) มีการเชื่อมต่อทางกายภาพกับกินอีกเครื่องหุ่นยนต์ที่เรียกว่าตัวจัดการหรือ Prober และผ่านการปรับแต่งอินเตอร์เฟซการทดสอบอะแดปเตอร์ (ITA) หรือ "การติดตั้ง" ที่จะปรับทรัพยากรกินเพื่อ DUT
.jpg "(G-10 / FR-4 แผ่น - ขัด) G-10 / FR-4 แผ่น - ขัด")
Translate
