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Semicon Equipamento de Teste (ATE) (3825-TE)

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Semicon Equipamento de Teste (ATE) (3825-TE)
O Semiconductor ATE (Equipamento de Teste Automatizado), para testar dispositivos semicondutores, pode testar uma ampla gama de dispositivos e sistemas eletrônicos, desde componentes simples (resistores, capacitores e indutores) a circuitos integrados (ICs), placas de circuito impresso (PCBs) e sistemas eletrônicos complexos e completamente montados. Os sistemas ATE são projetados para reduzir a quantidade de tempo de teste necessária para verificar se um determinado dispositivo funciona ou para localizar rapidamente suas falhas antes que a peça tenha a chance de ser usada em um produto de consumo final. Para reduzir os custos de fabricação e melhorar o rendimento, os dispositivos semicondutores devem ser testados após serem fabricados para evitar que dispositivos defeituosos acabem com o consumidor. A arquitetura Semiconductor ATE consiste de um controlador mestre (geralmente um computador) que sincroniza uma ou mais fontes e instrumentos de captura. Historicamente, os controladores ou relés personalizados foram usados ​​pelos sistemas ATE. O Device Under Test (DUT) é fisicamente conectado à ATE por outra máquina robótica chamada Manipulador ou Prober e por meio de um Adaptador de Teste de Interface (ITA) personalizado ou acessório que adapta os recursos da ATE ao DUT.
Para obter informações técnicas adicionais, consulte: Quadrant EPP Back-End IC Testing Materials
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