View In English View In English
plastic leverancier, plastic folie, plastic staven, plastic buizen, plexiglas, op te slaan Contacteer ons Contacteer ons Locaties Locaties Over Ons Over Ons Zending volgen Zending volgen Registreer Registreer Log in Log in Winkelwagen Winkelwagen (0)
 
  • De leider in kunststofplaten, stangen, buizen, profielen en componenten
  • Vraag een offerte aan

Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

Meer Channel SIC
Semicon-testapparatuur (ate) (3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), voor het testen van halfgeleiderapparaten, kan een breed scala aan elektronische apparaten en systemen testen, van eenvoudige componenten (weerstanden, condensatoren en inductoren) tot geïntegreerde schakelingen (IC's), printplaten (PCB's) en complexe, volledig geassembleerde elektronische systemen. ATE-systemen zijn ontworpen om de hoeveelheid testtijd te verminderen die nodig is om te controleren of een bepaald apparaat werkt of om snel de fouten te vinden voordat het onderdeel de kans krijgt om in een consumentenproduct te worden gebruikt. Om de productiekosten te verlagen en de opbrengst te verbeteren, moeten halfgeleiderapparaten worden getest nadat ze zijn gefabriceerd om te voorkomen dat defecte apparaten bij de consument terechtkomen. De Semiconductor ATE-architectuur bestaat uit een mastercontroller (meestal een computer) die een of meer source- en capture-instrumenten synchroniseert. Vroeger werden op maat ontworpen controllers of relais gebruikt door ATE-systemen. Het Device Under Test (DUT) is fysiek verbonden met de ATE door een andere robotmachine, een Handler of Prober genaamd, en via een aangepaste Interface Test Adapter (ITA) of armatuur die de bronnen van de ATE aanpast aan de DUT.

Zie voor aanvullende technische informatie: Quadrant EPP Back-End IC-testmaterialen

Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE) ... our Products

Sort By:
Professionele Plastics Locaties
Locaties overal
Aanbevolen voor jou