Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), genoemd naar het testen van halfgeleiders, kan een breed scala van elektronische apparaten en systemen te testen, van eenvoudige componenten (weerstanden, condensatoren en spoelen) naar geïntegreerde circuits (ICs), printed circuit boards (PCB's), en complexe, volledig gemonteerd elektronische systemen. ATE-systemen zijn ontworpen om de hoeveelheid testtijd voor de controle van een bepaald apparaat werkt of voor snel zijn tekortkomingen bij het deel een kans om te worden gebruikt in een eindverbruiker product verminderen. Om de productie kosten te verlagen en een verbeterde opbrengst, moet halfgeleiders worden getest nadat ze gefabriceerd defecte apparaten te eindigen met de consument te vermijden. Semiconductor ATE architectuur bestaat uit meesterstuureenheid (meestal een computer) die één of meer bron en capture instrumenten (hieronder) synchroniseert. Historisch gezien, speciaal ontworpen controllers of relais werden gebruikt door ATE-systemen. Het apparaat onder test (DUT) is fysiek verbonden met de ATE door een andere robot machine heet een Handler of prober en door middel van een aangepaste interface Testadapter (ITA) of "inrichting", dat de ATE de middelen aanpast aan de TU Delft.