Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semiconductor ATE (geautomatiseerde testapparatuur), voor het testen van halfgeleiderelementen, kan een breed scala aan elektronische apparaten en systemen testen, van eenvoudige componenten (weerstanden, condensatoren en inductoren) tot geïntegreerde schakelingen (IC's), printplaten (PCB's) en complexe, volledig geassembleerde elektronische systemen. ATE-systemen zijn ontworpen om de hoeveelheid testtijd die nodig is om een ​​bepaald apparaat te laten werken te verminderen of om snel de fouten te vinden voordat het onderdeel de kans krijgt om te worden gebruikt in een eindconsumentproduct. Om de productiekosten te verlagen en de opbrengst te verbeteren, moeten halfgeleiderelementen worden getest nadat ze zijn gefabriceerd om te voorkomen dat defecte apparaten bij de consument terechtkomen. De ATE-architectuur van de halfgeleider bestaat uit een mastercontroller (meestal een computer) die een of meer bron- en vastleginstrumenten synchroniseert. In het verleden werden op maat ontworpen controllers of relais gebruikt door ATE-systemen. Het apparaat onder test (DUT) is fysiek verbonden met de ATE door een andere robotmachine, een handler of een prober, en via een aangepaste interfacetestadapter (ITA) of armatuur die de bronnen van de ATE aanpast aan de DUT.
Zie voor aanvullende technische informatie: Quadrant EPP back-end IC-testmaterialen