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SIC으로 재료반도체 테스트 장비 (ATE) (3825-TE)

반도체 테스트 장비 (ATE) (3825-TE)

 
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반도체 테스트 장비 (ATE) (3825-TE)
반도체 집적 회로 (IC), 인쇄 회로 기판 (PCB)에 간단한 부품 (저항기, 커패시터, 인덕터)에서, 전자 장치 및 시스템의 다양한 테스트 할 시험 반도체 디바이스의 지명 (자동 시험 장비) ATE 및 복합체는 완전히 조립 된 전자 시스템. ATE 시스템은 특정 장치의 작동 또는 일부가 최종 소비자 제품에 사용될 수있는 기회를 갖는다 전에 빠르게 결함을 찾아 확인에 필요한 검사 시간을 줄일 수 있도록 설계되어있다. 제조 비용을 감소시키고 수율을 개선하기 위해, 반도체 장치는 소비자로 끝나는 장치 결함을 방지하기 위해 제조 후 시험해야한다. 반도체 아키텍처는 하나 (아래) 이상의 소스 캡처 기기를 동기화 마스터 컨트롤러 (일반적으로 컴퓨터)로 구성 ATE. 역사적으로, 맞춤 설계 컨트롤러 나 릴레이는 ATE 시스템에 의해 사용되었다. DUT (Device Under Test)로 물리적는 A 핸들러 또는 프로 버와 사용자 인터페이스 테스트 어댑터 (ITA) 또는 DUT에의 ATE 자원을 적응 "고정"를 통해 호출 다른 로봇 기계에 의해 ATE 연결되어 있습니다.

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