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セミコン - テストソケットビット(3825-TSU)

詳細チャンネルSICS
セミコン - テストソケットビット(3825-TSU)
  

Overview of Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU)

— テストソケットは、高周波ICをPCBにはんだ付けせずにテストするために使用されます。 ICは、テストセットアップ内に配置されたPCBボードにはんだ付けされたテストソケットに配置されます。テストソケットを選択する際に考慮すべき重要な要素は、耐久性または信頼性です。これは、交換が必要になる前にテストソケットが達成できるデバイス/ ICの挿入数です。理想的には、ソケットは修理を必要とせず、そのライフサイクル全体で確実に動作する必要があります。アセンブリ、テスト、パッケージ用の高度なエンジニアリングプラスチック材料は、プロセス環境に適切に適合させると最も効果的です。これらの用途に合わせて、幅広い温度範囲にわたって正確な許容差と強度を維持し、静電荷を効果的に管理し、容易に機械加工する材料を提供します。デバイスサイズの縮小、ピン数の増加、ピッチサイズの縮小に対応し、幅広い温度範囲で導電性、抵抗性、または高抵抗性の電気的性能を提供する製品が利用可能になりました。 Professional Plasticsのバーンインテストソケット(別名BiTS)、ハンドラー、ネスト素材には次のものが含まれます。 Torlon®:5530および4203、Semitron®:410、420、480、490、500HR、520HR、MDS100およびMP370、CeramaPEEK®:、Ultem®:1000および2300など。
参照: Professional Plastics Test Socket&Handler Technical Design Guide
参照: Quadrant EPPバックエンドICテスト材料

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