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セミコン試験装置(ATE)(3825-TE)

詳細チャンネルSICS
セミコン試験装置(ATE)(3825-TE)
半導体は、集積回路(IC)、プリント回路基板(PCB)への単純な部品(抵抗、コンデンサ、インダクタ)から、電子機器やシステムの広い範囲をテストすることができ、検査用半導体デバイスのための名前、(自動試験装置)をATEおよび複合体は、完全に電子システムを組み立てました。 ATEシステムは、特定のデバイスの動作または一部は、最終的な消費者製品に使用する機会を持つ前に、迅速に故障を発見することを確認するために必要な試験時間を短縮するように設計されています。製造コストを低減し、歩留まりを向上させるために、半導体デバイスは、消費者に終わる不良デバイスのを防止するように製造された後に試験されるべきです。半導体ATEアーキテクチャは、(下記参照)1つ以上のソースとキャプチャ機器を同期させるマスタコントローラ(通常はコンピュータ)で構成されています。歴史的に、カスタム設計されたコントローラやリレーは、ATEシステムで使用されていました。被測定デバイス(DUT)は、物理的に別のロボットマシンによってATEに接続されているハンドラやプローバと呼ばれ、DUTへのATEリソースを適応させ、カスタマイズインタフェーステストアダプタ(ITA)または「フィクスチャ」を通じ。
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