Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), che prende il nome dispositivi collaudo di semiconduttori, in grado di testare una vasta gamma di dispositivi e sistemi elettronici, da semplici componenti (resistenze, condensatori e induttori) ai circuiti integrati (IC), circuiti stampati (PCB), e complesso, completamente assemblato sistemi elettronici. sistemi ATE sono progettati per ridurre la quantità di tempo di test necessari per verificare che un particolare dispositivo funziona o per trovare rapidamente i suoi difetti prima parte ha la possibilità di essere utilizzato in un prodotto finale di consumo. Per ridurre i costi di produzione e migliorare la resa, dispositivi a semiconduttore devono essere testati dopo essere stato fabbricato per evitare che i dispositivi difettosi finiscono con il consumatore. La Semiconductor ATE architettura si compone di controller master (di solito un computer) che sincronizza uno o più strumenti di origine e di acquisizione (elencati di seguito). Storicamente, controllori o relè progettati su misura sono stati utilizzati dai sistemi ATE. Il dispositivo in prova (DUT) è fisicamente collegato alla ATE da un'altra macchina robotizzata chiamato Handler o Prober e attraverso un adattatore di interfaccia personalizzata Test (ITA) o "dispositivo" che adatta le risorse di ATE al DUT.