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Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

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Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semiconductor ATE (Automated Test Equipment) di semiconduttori, per testare dispositivi a semiconduttore, può testare una vasta gamma di dispositivi elettronici e sistemi, da semplici componenti (resistori, condensatori e induttori) a circuiti integrati (IC), circuiti stampati (PCB) e sistemi elettronici complessi e completamente assemblati. I sistemi ATE sono progettati per ridurre la quantità di tempo necessario per verificare che un particolare dispositivo funzioni o per trovare rapidamente i suoi difetti prima che la parte abbia la possibilità di essere utilizzata in un prodotto finale. Per ridurre i costi di produzione e migliorare la resa, i dispositivi a semiconduttore dovrebbero essere testati dopo essere stati fabbricati per evitare che i dispositivi difettosi finiscano con il consumatore. L'architettura ATE di Semiconductor è costituita da un controller master (di solito un computer) che sincronizza uno o più strumenti di origine e acquisizione. Storicamente, controllori o relè progettati su misura sono stati utilizzati dai sistemi ATE. Il Device Under Test (DUT) è fisicamente collegato all'ATA da un'altra macchina robotica chiamata Handler o Prober e tramite un adattatore di test di interfaccia (ITA) personalizzato o un dispositivo che adatta le risorse di ATE al DUT.
Per ulteriori informazioni tecniche, consultare: Materiali di test IC Back-End per quadranti EPP

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