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Semicon परीक्षण उपकरण (एटीई) (3825-ते)

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Semicon परीक्षण उपकरण (एटीई) (3825-ते)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— अर्धचालक एटीई (स्वचालित परीक्षण उपकरण), अर्धचालक उपकरणों का परीक्षण करने के लिए, एकीकृत उपकरणों (प्रतिरोधक, कैपेसिटर, और इंडक्टर्स) से एकीकृत सर्किट (आईसीएस), मुद्रित सर्किट बोर्ड (पीसीबी), और इलेक्ट्रॉनिक उपकरणों और प्रणालियों की विस्तृत श्रृंखला का परीक्षण कर सकते हैं। जटिल, पूरी तरह से इकट्ठा इलेक्ट्रॉनिक सिस्टम। एटीई सिस्टम को अंतिम उपभोक्ता उत्पाद में भाग लेने का मौका मिलने से पहले एक विशेष डिवाइस काम करता है या जल्दी से अपने दोषों को खोजने के लिए आवश्यक परीक्षण समय की मात्रा को कम करने के लिए डिज़ाइन किया गया है। विनिर्माण लागत को कम करने और उपज में सुधार करने के लिए, उपभोक्ता के साथ समाप्त होने वाले दोषपूर्ण उपकरणों को रोकने के लिए अर्धचालक उपकरणों का परीक्षण किया जाना चाहिए। सेमीकंडक्टर एटीई आर्किटेक्चर में मास्टर कंट्रोलर (आमतौर पर एक कंप्यूटर) होता है जो एक या अधिक स्रोत सिंक्रनाइज़ करता है और उपकरणों को कैप्चर करता है। ऐतिहासिक रूप से, कस्टम-डिज़ाइन किए गए नियंत्रक या रिले का उपयोग एटीई सिस्टम द्वारा किया जाता था। डिवाइस अंडर टेस्ट (डीयूटी) एक अन्य रोबोटिक मशीन द्वारा एटीई से शारीरिक रूप से जुड़ा हुआ है जिसे हैंडलर या प्रोबोर कहा जाता है और एक अनुकूलित इंटरफेस टेस्ट एडाप्टर (आईटीए) या स्थिरता के माध्यम से जो एटीई के संसाधनों को डीयूटी में अनुकूलित करता है।
अतिरिक्त तकनीकी जानकारी के लिए, देखें: क्वाड्रंट ईपीपी बैक-एंड आईसी परीक्षण सामग्री

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