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Équipement de test Semicon (ATE) (3825-TE)

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Équipement de test Semicon (ate) (3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), pour tester des dispositifs à semi-conducteurs, peut tester une large gamme de dispositifs et de systèmes électroniques, des composants simples (résistances, condensateurs et inductances) aux circuits intégrés (CI), cartes de circuits imprimés (PCB) et systèmes électroniques complexes et entièrement assemblés. Les systèmes ATE sont conçus pour réduire le temps de test nécessaire pour vérifier qu'un appareil particulier fonctionne ou pour trouver rapidement ses défauts avant que la pièce ait une chance d'être utilisée dans un produit de consommation final. Pour réduire les coûts de fabrication et améliorer le rendement, les dispositifs à semi-conducteurs doivent être testés après avoir été fabriqués pour éviter que des dispositifs défectueux ne se retrouvent chez le consommateur. L'architecture Semiconductor ATE se compose d'un contrôleur maître (généralement un ordinateur) qui synchronise un ou plusieurs instruments de source et de capture. Historiquement, des contrôleurs ou des relais conçus sur mesure étaient utilisés par les systèmes ATE. Le dispositif sous test (DUT) est physiquement connecté à l'ATE par une autre machine robotique appelée gestionnaire ou sondeur et via un adaptateur de test d'interface (ITA) personnalisé ou un appareil qui adapte les ressources de l'ATE au DUT.

Pour plus d'informations techniques, voir : Quadrant EPP Back-End IC Testing Materials

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