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Aviones mecanizado de piezas (3599-AP)
Mecanizado de piezas de aviones
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Equipo de prueba de semiconductores (ATE) (3825-TE)

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Equipo de prueba de semiconductores (ATE) (3825-TE)
Semiconductor ATE (Equipo de prueba automatizada), llamado así por probar dispositivos semiconductores, puede probar una amplia gama de dispositivos y sistemas electrónicos, a partir de componentes simples (resistencias, condensadores e inductores) a los circuitos integrados (ICs), placas de circuito impreso (PCB), y complejo, completamente montado sistemas electrónicos. sistemas ATE están diseñados para reducir la cantidad de tiempo de prueba necesario para verificar que un dispositivo en particular funciona o para encontrar rápidamente sus defectos antes de que la parte tiene una oportunidad de ser utilizado en un producto de consumo final. Para reducir los costes de fabricación y mejorar el rendimiento, dispositivos semiconductores deben ser probados después de haber sido fabricado para evitar que los dispositivos defectuosos que terminan con el consumidor. El Semiconductor ATE arquitectura consta de controlador principal (normalmente un ordenador) que sincroniza uno o más instrumentos de origen y de captura (enumerados a continuación). Históricamente, los controladores o relés de diseño personalizado fueron utilizados por los sistemas ATE. El dispositivo bajo prueba (DUT) está conectado físicamente a la ATE en otro equipo de robótica denominada controlador o Prober ya través de un adaptador de interfaz personalizada de prueba (ITA) o "accesorio" que se adapta a los recursos de ATE al DUT.
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