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Semicon - Prüfbuchse BiTS (3825-TSU)

Mehr-Kanal SICs
Semicon - Prüfbuchse BiTS (3825-TSU)
  

Overview of Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU)

— Test Sockets dienen zum Testen von Hochfrequenz-ICs, ohne diese auf eine Leiterplatte zu verlöten. Der IC wird in einen Prüfsockel gesteckt, der auf eine Leiterplatte gelötet wird, die sich in einem Prüfaufbau befindet. Ein wichtiger Faktor bei der Auswahl einer Prüfsteckdose ist deren Haltbarkeit oder Zuverlässigkeit. Dies ist die Anzahl der Geräte- / IC-Bestückungen, die ein Testsockel erreichen kann, bevor er ausgetauscht werden muss. Im Idealfall sollte eine Steckdose keine Reparatur erfordern und während ihres gesamten Lebenszyklus zuverlässig funktionieren. Hochentwickelte technische Kunststoffe für Montage, Test und Verpackung sind am effektivsten, wenn sie ordnungsgemäß an die Prozessumgebung angepasst sind. Abgestimmt auf diese Anwendungen bieten wir Materialien an, die über einen breiten Temperaturbereich präzise Toleranzen und Festigkeiten einhalten, elektrostatische Aufladungen effektiv beherrschen und problemlos maschinell bearbeitet werden können. Ab sofort sind Produkte erhältlich, die eine verringerte Gerätegröße, eine erhöhte Pin-Anzahl und eine kleinere Teilungsgröße verarbeiten und über einen breiten Temperaturbereich leitende, resistive oder hochohmige elektrische Leistung liefern. Burn-In-Testfassungen (auch bekannt als BiTS), Handler- und Nestmaterialien von Professional Plastics umfassen: Torlon®: 5530 & 4203, Semitron®: 410, 420, 480, 490, 500HR, 520HR, MDS100 & MP370, CeramaPEEK® :, Ultem®: 1000 & 2300 und mehr.
Siehe: Professional Plastics Test Socket & Handler - Technischer Planungsleitfaden
Siehe: Quadrant-EPP-Back-End-IC-Testmaterialien

Semicon - Test Socket BiTS (3825-TSU) ... our Products

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