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Semicon Testausrüstung (ATE) (3825-TE)

Mehr-Kanal SICs
Semicon Test Equipment (ate) (3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Semiconductor ATE (Automated Test Equipment) zum Testen von Halbleitergeräten kann eine breite Palette elektronischer Geräte und Systeme testen, von einfachen Komponenten (Widerstände, Kondensatoren und Induktoren) bis hin zu integrierten Schaltkreisen (ICs), Leiterplatten (PCBs) und komplexe, komplett montierte elektronische Systeme. ATE-Systeme wurden entwickelt, um die Testzeit zu reduzieren, die erforderlich ist, um zu überprüfen, ob ein bestimmtes Gerät funktioniert, oder um seine Fehler schnell zu finden, bevor das Teil die Möglichkeit hat, in einem Endverbraucherprodukt verwendet zu werden. Um die Herstellungskosten zu senken und die Ausbeute zu verbessern, sollten Halbleiterbauelemente nach der Herstellung getestet werden, um zu verhindern, dass defekte Bauelemente beim Verbraucher landen. Die Semiconductor ATE-Architektur besteht aus einem Master-Controller (normalerweise einem Computer), der eine oder mehrere Quellen- und Erfassungsinstrumente synchronisiert. In der Vergangenheit wurden von ATE-Systemen kundenspezifische Controller oder Relais verwendet. Das zu testende Gerät (DUT) ist durch eine andere Robotermaschine, die als Handler oder Prober bezeichnet wird, und durch einen angepassten Schnittstellentestadapter (ITA) oder eine Halterung, die die Ressourcen des ATE an das DUT anpasst, physisch mit dem ATE verbunden.

Weitere technische Informationen finden Sie unter: Quadrant EPP-Back-End-IC-Testmaterialien

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