Semiconductor ATE (Automated Test Equipment), zum Testen von Halbleitergeräten genannt, eine breite Palette von elektronischen Geräten und Systemen testen können, von einfachen Bauteilen (Widerstände, Kondensatoren und Induktivitäten) integrierte Schaltungen (ICs), Leiterplatten (PCBs), und komplex, vollständig elektronischen Systemen zusammengebaut. ATE-Systeme sind so konzipiert, um die Menge der Testzeit zu reduzieren erforderlich, um sicherzustellen, dass ein bestimmtes Gerät arbeitet oder, um schnell seine Fehler finden, bevor das Teil eine Chance hat, in einem Endverbraucherprodukt verwendet werden. Um die Herstellungskosten und zur Verbesserung der Ausbeute von Halbleiterbauelementen sollte nach hergestellt getestet werden, dass zu verhindern, defekte Geräte enden mit dem Verbraucher zu reduzieren. Die Semiconductor ATE-Architektur besteht aus Master-Controller (in der Regel ein Computer), die eine oder mehrere Quell- und Capture-Instrumente (siehe unten) synchronisiert. Historisch gesehen, kundenspezifische Steuerungen oder Relais wurden von ATE-Systemen eingesetzt. Das Device Under Test (DUT) physisch von einem anderen Roboter-Maschine zu die ATE verbunden ein Handler oder Prober und durch ein maßgeschneidertes Interface Test Adapter (ITA) oder "Vorrichtung" genannt, die die ATE Ressourcen an das DUT anpasst.
Mehr-Kanal SICs
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