Semicon Testausrüstung (ATE) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— Halbleiter ATE (Automated Test Equipment), zum Testen von Halbleitergeräten, kann eine breite Palette von elektronischen Geräten und Systemen testen, von einfachen Komponenten (Widerstände, Kondensatoren und Induktivitäten) bis zu integrierten Schaltungen (ICs), Leiterplatten (PCBs) und komplexe, komplett montierte elektronische Systeme. ATE-Systeme wurden entwickelt, um die Testzeit zu reduzieren, die benötigt wird, um zu verifizieren, dass ein bestimmtes Gerät funktioniert, oder um seine Fehler schnell zu finden, bevor das Teil die Chance hat, in einem Endverbraucherprodukt verwendet zu werden. Um die Herstellungskosten zu senken und den Ertrag zu verbessern, sollten Halbleitergeräte nach ihrer Herstellung getestet werden, um zu verhindern, dass defekte Geräte beim Verbraucher landen. Die Halbleiter-ATE-Architektur besteht aus einem Master-Controller (normalerweise ein Computer), der ein oder mehrere Quell- und Erfassungsinstrumente synchronisiert. In der Vergangenheit wurden kundenspezifische Steuerungen oder Relais von ATE-Systemen verwendet. Das zu testende Gerät (DUT) ist physikalisch mit der ATE durch eine andere Robotermaschine verbunden, die Handler oder Prober genannt wird, und durch einen kundenspezifischen Interface Test Adapter (ITA) oder eine Vorrichtung, die die Ressourcen der ATE an den DUT anpasst.
Weitere technische Informationen finden Sie unter Quadrant-EPP-Back-End-IC-Testmaterialien