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Probe-Karte - Probe-Test (3825-PC)
Sondenkarte - Probe Test
Eine Prüfkarte ist eine Schnittstelle zwischen einem elektronischen Testsystem und einem Halbleiterwafer. Typischerweise ist die Prüfkarte mechanisch an einen Prüfkopf angedockt und elektrisch mit einem Prüfgerät verbunden. Sein Zweck besteht darin, einen elektrischen Pfad zwischen dem Testsystem und den Schaltungen auf dem Wafer bereitzustellen, wodurch ...
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ECTFE / Halar®

ECTFE Halar wurde entwickelt, um sehr gute chemische Beständigkeit in schweren Korrosions Anwendungen. Erfüllt FM 4910 Genehmigung.



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