半导体设备测试设备（ATE）（3825-TE）

半导体ATE（自动测试设备），命名为测试半导体器件，可以测试各种电子设备和系统，从简单的元件（电阻器，电容器和电感器），以集成电路（IC），印刷电路板（PCB），和复杂的，完全组装的电子系统。 ATE系统的设计，以减少来验证特定设备工程或快速找到其错误的部分具有在最终消费产品中使用的机会之前所需的测试时间的量。以降低制造成本，提高成品率，半导体器件应被制造，以防止与消费者结束了有缺陷的器件之后进行测试。半导体ATE架构由主控制器（通常是计算机）用于同步一个或多个源和采集仪器（如下所示）的。从历史上看，定制设计的控制器或继电器由ATE系统使用。被测器件（DUT）的装置物理连接到由另一个称作处理或测机，并通过定制接口测试适配器（ITA）或适应ATE的资源给DUT“夹具”机器人装置的ATE。