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半导体设备测试设备(ATE)(3825-TE)

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Semicon 测试设备 (ate) (3825-te)
  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— 半导体 ATE(自动化测试设备),用于测试半导体器件,可以测试范围广泛的电子设备和系统,从简单的组件(电阻器、电容器和电感器)到集成电路 (IC)、印刷电路板 (PCB) 和复杂的,完全组装的电子系统。 ATE 系统旨在减少验证特定设备是否工作所需的测试时间,或在零件有机会用于最终消费产品之前快速发现其故障所需的测试时间。为了降低制造成本并提高产量,半导体器件应在制造后进行测试,以防止有缺陷的器件最终流入消费者手中。半导体 ATE 架构由同步一个或多个源和捕获仪器的主控制器(通常是计算机)组成。过去,ATE 系统使用定制设计的控制器或继电器。被测设备 (DUT) 由另一台称为 Handler 或 Prober 的机器人机器物理连接到 ATE,并通过定制的接口测试适配器 (ITA) 或使 ATE 的资源适应 DUT 的夹具。

有关其他技术信息,请参阅: Quadrant EPP 后端 IC 测试材料

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