半导体设备测试设备（ATE）（3825-TE）

用于测试半导体器件的半导体ATE（自动测试设备）可以测试各种电子器件和系统，从简单的元件（电阻器，电容器和电感器）到集成电路（IC），印刷电路板（PCB）和复杂的，完全组装的电子系统。 ATE系统旨在减少验证特定设备工作所需的测试时间，或在部件有机会用于最终消费产品之前快速找到故障。为了降低制造成本并提高产量，半导体器件应在制造后进行测试，以防止有缺陷的器件最终落入消费者手中。半导体ATE架构由主控制器（通常是计算机）组成，它可以同步一个或多个源和捕获仪器。历史上，ATE系统使用定制设计的控制器或继电器。被测设备（DUT）通过另一台称为Handler或Prober的机器人机器以及通过定制的接口测试适配器（ITA）或固定装置将ATE的资源调整到DUT，从物理上连接到ATE。
有关其他技术信息，请参阅： Quadrant EPP后端IC测试材料