View In English View In English
塑料供应商,塑料板材,塑料棒,塑料管,有机玻璃,店 联系我们 联系我们 地点 地点 关于我们 关于我们 跟踪装运 跟踪装运 注册 注册 登录 登录 购物车 大车
 

探针卡 - 探针测试(3825-PC)

更多的SIC频道
探针卡 - 探针测试(3825-PC)
  

Overview of Probe Card - Probe Test (3825-PC)

— 探针卡是电子测试系统和半导体晶片之间的接口。通常,探针卡机械对接到探针并电连接到测试仪。其目的是在测试系统和晶片上的电路之间提供电路径,从而允许在晶片级电路的测试和验证,通常在它们被切割和封装之前。它通常由印刷电路板(PCB)和某种形式的接触元件组成,通常是金属的,但也可能是其它材料。半导体制造商通常需要为每个新器件晶圆提供新的探针卡以及器件缩小(当制造商减小器件尺寸但保持功能相同时),因为探针卡实际上是一种采用通用模式的定制连接器给定测试器的信号并转换信号以连接到晶片上的电焊盘。为了测试DRAM和FLASH存储器件,这些焊盘通常由铝制成,每边40-90μm。其他装置可具有平垫,或由铜,铜合金或许多类型的焊料(例如铅锡,锡 - 银等)制成的凸起的凸起或柱。在测试设备期间,探针卡必须与这些焊盘或凸块形成良好的电接触。当设备的测试完成后,探测器将晶圆索引到下一个待测设备。根据接触元件的形状和形式,探针卡大致分为针型,垂直型和MEMS型。 MEMS类型是目前最先进的技术。目前最先进的探针卡可以通过一次触地测试来测试整个12个晶圆。 Professional Plastics提供用于探针测试设备的全系列材料,包括:聚酰亚胺微管用于绝缘钨丝,以及用于测试头的Macor®,Vespel®(聚酰亚胺)和Meldin®(聚酰亚胺)。

Probe Card - Probe Test (3825-PC) ... our Products

Sort By:
专业塑料地点
为你推荐