أشباه معدات الاختبار (أكل) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— يمكن لأشباه الموصلات ATE (معدات الاختبار الآلي) ، لاختبار أجهزة أشباه الموصلات ، اختبار مجموعة واسعة من الأجهزة والأنظمة الإلكترونية ، من المكونات البسيطة (المقاومات والمكثفات والمحاثات) إلى الدوائر المتكاملة (ICs) ولوحات الدوائر المطبوعة (PCBs) و أنظمة إلكترونية معقدة ومجمعة بالكامل. تم تصميم أنظمة ATE لتقليل مقدار وقت الاختبار اللازم للتحقق من أن جهازًا معينًا يعمل أو للعثور على أخطائه بسرعة قبل أن تتاح للقطعة فرصة لاستخدامها في منتج استهلاكي نهائي. لتقليل تكاليف التصنيع وتحسين العائد ، يجب اختبار أجهزة أشباه الموصلات بعد تصنيعها لمنع وصول الأجهزة المعيبة إلى المستهلك. تتكون بنية ATE لأشباه الموصلات من وحدة تحكم رئيسية (عادةً جهاز كمبيوتر) تقوم بمزامنة مصدر واحد أو أكثر من أدوات الالتقاط. تاريخيًا ، تم استخدام وحدات التحكم أو المرحلات المصممة خصيصًا بواسطة أنظمة ATE. يتم توصيل الجهاز قيد الاختبار (DUT) فعليًا بـ ATE بواسطة آلة روبوتية أخرى تسمى Handler أو Prober ومن خلال مهايئ اختبار واجهة مخصص (ITA) أو أداة تقوم بتكييف موارد ATE مع DUT.

للحصول على معلومات فنية إضافية ، راجع: مواد اختبار IC ذات النهاية الخلفية الرباعية EPP