أشباه معدات الاختبار (أكل) (3825-TE)

  

Overview of Semicon Test Equipment (ATE) (3825-TE)

— يمكن لأشباه الموصلات ATE (معدات الاختبار المؤتمتة) ، لاختبار أجهزة أشباه الموصلات ، اختبار مجموعة واسعة من الأجهزة والأنظمة الإلكترونية ، بدءًا من المكونات البسيطة (المقاومات ، المكثفات ، المحاثات) إلى الدوائر المتكاملة (ICs) ، ولوحات الدوائر المطبوعة (PCBs) ، و أنظمة الكترونية معقدة ومجمعة بالكامل. تم تصميم أنظمة ATE لتقليل كمية الوقت اللازم للاختبار للتحقق من عمل جهاز معين أو العثور بسرعة على أعطاله قبل أن يكون لدى الجزء فرصة لاستخدامه في منتج مستهلك نهائي. للحد من تكاليف التصنيع وتحسين الإنتاجية ، يجب اختبار أجهزة أشباه الموصلات بعد تصنيعها لمنع الأجهزة المعيبة من الوصول إلى المستهلك. تتكون معمارية Semeductor ATE من وحدة تحكم رئيسية (عادةً جهاز كمبيوتر) تقوم بمزامنة واحد أو أكثر من أدوات المصدر والتقاط. تاريخيا ، تم استخدام وحدات تحكم أو مرحلات مصممة خصيصا من قبل أنظمة ATE. يتم توصيل الجهاز تحت الاختبار (DUT) فعليًا بـ ATE بواسطة جهاز روبوت آخر يسمى Handler أو Prober ومن خلال مهايئ اختبار واجهة مخصص (ITA) أو أداة ضبط تتكيف مع موارد ATE إلى DUT.
للحصول على معلومات فنية إضافية ، انظر: مواد اختبار الدوائر المرتدة الخلفية الرباعية EPP