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材料通過SIC探針卡 - 探針測試(3825-PC)

探針卡 - 探針測試(3825-PC)

 
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探針卡 - 探針測試(3825-PC)
的探針卡是一種電子測試系統和半導體晶片之間的界面。典型地,探針卡被機械地停靠到一個探測器,並且電連接到測試器。其目的是為了提供在晶片上的測試系統和所述電路之間的電通路,從而允許電路的測試和驗證在晶片級,通常之前它們是切割和包裝。它包括,通常,印刷電路板(PCB)和某種形式的接觸元件,通常是金屬的,但可能的其他材料為好。半導體製造商將通常需要一個新的探針卡為每個新的器件晶片和器件的減小(當製造降低了裝置的大小,但保持相同功能的),因為該探針卡是一個有效的定制連接器,是以普遍圖案一個給定的測試儀及轉換的信號連接到在晶片上的電墊。對於DRAM和閃速存儲器設備的測試這些墊通常由鋁製成並且是40-90微米每一側。其他設備可以具有扁平焊盤,或凸起由銅,銅合金或多種類型的焊料,例如鉛 - 錫,錫 - 銀和其他的凸塊或支柱。探針卡必須使該裝置的測試過程中良好的電接觸這些焊盤或隆起。當該裝置的測試完成後,該探針將索引晶片到下一個設備進行測試。探針卡大致分為針型,垂直型,和​​MEMS類型根據形狀和接觸元件的形式。 MEMS類型是最先進的技術目前已經上市。最先進的式探針卡目前可以用一個達陣測試整個晶圓12。專業塑料提供的探針測試設備,包括使用的材料全範圍的;聚酰亞胺微管用於絕緣鎢絲,以及,Macor®可用,的Vespel®&meldin®用於測試頭。

(MACOR)Macor®可用機器做玻璃陶瓷
Macor®可用機器做玻璃陶瓷
 
(聚酰亞胺管)聚酰亞胺微孔管
聚酰亞胺微孔管
 
(殷鋼)因瓦合金36
因瓦合金36
 
(SEMITRON MDS 100)Semitron®MDS 100
Semitron®MDS 100
 
(CeramaPEEK NC30)CeramaPEEK®NC30  - 擠壓
CeramaPEEK®NC30 - 擠壓
 
(PVDF EXT SHT-ROD)PVDF  - 擠壓棒和平板
PVDF - 擠壓棒和平板
 
(スSUPER)住化超級S1000  - 新!
住化超級S1000 - 新!
 
(MELDIN 7001)Meldin®7001聚酰亞胺(未填)
Meldin®7001聚酰亞胺(未填)
 
(TEFLON板/棒-VG)PTFE板料&標尺(維京等級)
PTFE板料&標尺(維京等級)
 
(ULTEM1000)ULTEM™1000(未填)PEI
ULTEM™1000(未填)PEI
 
(LDPE)LDPE  - 低密度聚乙烯
LDPE - 低密度聚乙烯
       
 

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