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プローブカード - プローブテスト(3825-PC)

 
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プローブカード - プローブテスト(3825-PC)
プローブカードは、電子テストシステムと半導体ウエハとの間のインタフェースです。典型的には、プローブカードを機械的にプローバにドッキングされ、テスターに​​電気的に接続されます。その目的は、それによって、それらがダイシングおよびパッケージ化され、通常は前にウェーハレベルで回路のテストおよび検証を可能にする、テストシステムとウェハ上の回路との間の電気経路を提供することです。これは、しかし、おそらく他の材料も同様に、プリント回路基板(PCB)と、通常の金属接点素子、何らかの形で、通常は、構成されています。プローブカードは、効果的に普遍的なパターンをとるカスタムコネクタであるため、半導体製造業者は、典型的には、(製造は、デバイスのサイズが小さくなりますが、同じ機能を維持した場合)それぞれの新しいデバイスウエハ用およびデバイス用の新しいプローブカードが収縮する必要があります指定されたテスターのウエハ上の電気パッドに接続するための信号を変換します。 DRAMおよびフラッシュメモリデバイスのテストのためにこれらのパッドは、典型的にはアルミニウム製で、ええと側あたり40-90されています。その他のデバイスは、フラットパッドを持っている、または銅、銅合金または、鉛 - 錫、錫 - 銀などのようなはんだの多くの種類で作られたバンプや柱を提起したことがあります。プローブカードは、デバイスのテスト中にこれらのパッドまたはバンプへの良好な電気的接触を行う必要があります。デバイスの試験が完了すると、次のデバイスにプローバ意志指数ウェハをテストします。プローブカードは広く形状及び接触要素の形態に応じて、ニードル型、縦型、およびMEMS型に分類されます。 MEMS型は、現在利用可能な最も先進的な技術です。プローブカードの最も先進的なタイプは、現在、1タッチダウンで全体の12ウエハをテストすることができます。専門のプラスチックは、以下を含むプローブ試験機器に使用される材料のフルレンジを提供しています。ポリイミドマイクロチューブは、マコール(登録商標)、ベスペル®&テストヘッドに使用meldin®をタングステン線を絶縁するために使用されるだけでなく、。

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