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ZuhauseMaterialien, die von SICProbe-Karte - Probe-Test (3825-PC)

Probe-Karte - Probe-Test (3825-PC)

 
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Probe-Karte - Probe-Test (3825-PC)
Eine Sondenkarte ist eine Schnittstelle zwischen einem elektronischen Testsystem und einem Halbleiterwafer. Typischerweise wird die Sondenkarte mechanisch mit einem Prober dockt und elektrisch mit einem Tester. Sein Zweck ist es, einen elektrischen Pfad zwischen dem Testsystem und den Schaltkreisen auf dem Wafer zu schaffen, um dadurch die Prüfung und Validierung der Schaltungen auf Waferebene ermöglicht wird, in der Regel, bevor sie gewürfelte und verpackt. Sie besteht normalerweise aus einer Leiterplatte (PCB) und einer Form der Kontaktelemente, in der Regel metallisches, aber möglicherweise aus anderen Materialien als auch. Ein Halbleiterhersteller benötigen in der Regel eine neue Sondenkarte für jedes neue Gerät Wafer und für Gerät schrumpft (wenn die Herstellung, die Größe des Gerätes reduziert, aber die Funktionen die gleichen bleiben), da die Sondenkarte effektiv eine benutzerdefinierte Verbinder ist, der die universelle Muster nimmt eines bestimmten Testers und übersetzt die Signale in elektrische Kontaktstellen auf dem Wafer zu verbinden. Zum Testen von DRAM- und Flash-Speichervorrichtungen sind diese Pads typischerweise aus Aluminium hergestellt und sind 40-90 um pro Seite. Andere Geräte können flache Pads haben oder Erhöhungen oder Säulen aus Kupfer, Kupferlegierungen oder viele Arten von Loten, wie Blei-Zinn, Zinn-Silber-und andere. Die Sondenkarte muss einen guten elektrischen Kontakt zu diesen Pads oder Beulen bei der Prüfung des Gerätes. Wenn die Prüfung des Gerätes beendet ist, getestet der Prober indiziert der Wafer zum nächsten Gerät werden. Prüfkarten werden in Nadeltyp, vertikalen Typ breit klassifiziert und MEMS auf Form und Formen von Kontaktelementen je nach Typ. MEMS-Typ ist das am weitesten fortgeschrittene Technologie, die derzeit zur Verfügung. Das am weitesten fortgeschrittene Art der Sondenkarte kann zur Zeit einen ganzen Wafer 12 mit einer Landung testen. Professionelle Plastics bietet eine vollständige Palette von Materialien in der Sonde verwendeten Prüfgeräte einschließlich; Polyimide Mikroschlauch verwendet Wolframdrähte zu isolieren, sowie Macor®, Vespel® & meldin® für Testköpfe verwendet.

(MACOR) Macor® bearbeitbare Glaskeramik
Macor® bearbeitbare Glaskeramik
 
(Polyimid-Schlauch) Polyimide Microbore Schläuche
Polyimide Microbore Schläuche
 
(INVAR) Invar 36 Legierung
Invar 36 Legierung
 
(SEMITRON MDS 100) Semitron® MDS 100
Semitron® MDS 100
 
(CeramaPEEK NC30) NC30 CeramaPEEK® - Stranggepresste
CeramaPEEK® NC30 - Stranggepresste
 
(PVDF EXT SHT-ROD) PVDF - Stranggepresste Stangen & Teller
PVDF - Stranggepresste Stangen & Teller
 
(SUMIKA SUPER) Sumika Super-S1000 - Neu !!
Sumika Super-S1000 - Neu !!
 
(Meldin 7001) Meldin® 7001 Polyimid (ungefüllt)
Meldin® 7001 Polyimid (ungefüllt)
 
(TEFLON BLATT / ROD-VG) PTFE-Folien & Stäbe (Virgin Grade)
PTFE-Folien & Stäbe (Virgin Grade)
 
(LDPE) LDPE - Polyethylen niedriger Dichte
LDPE - Polyethylen niedriger Dichte
 
(PEEK - Virgin) PEEK - VIRGIN Grade - Bettlaken & Rods
PEEK - VIRGIN Grade - Bettlaken & Rods
 
(TORLON4203) Torlon® 4203
Torlon® 4203
     
 

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